Spectra SRI-I

TSS-IIG

TIS-200G


 

タンネットイメージング装置

【主な仕様】

材料内部の品質分布を画像で表す
非破壊検査装置

周波数:200GHz       変調周波数: 4KHz
出力:1mW      X-Y走行系:50mm×50mm
 

タンネットによる反射イメージング(ICカード測定例)

高分解能反射イメージングシステム

 

 

IC Card 反射イメージ(200GHz)

  

 


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