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製品


汎用型テラヘルツ分光装置 SRI-I


性能・規格
測定範囲: 0.75 - 6.0 THz
最高分解能: 30GHz
光学系: 乾燥密閉型。振動を除去した光学系ベースプレート
テラヘルツ光源: GaP結晶を用いた差周波発生方式
テラヘルツ光源強度: 100mW/each pulse(2THz近傍)
繰返し周波数: 10Hz
パルス幅: 10-30ns(励起レーザのパルス幅)
標準検出器: DTGS(温調付) 2台
イメージング測定: 試料部のX-Y 2軸動作による空間スキャン方式
測定速度: 1.2 sec / point(最大)(40×40 point 、0.5mmピッチ)
標準測定範囲: 35mm×35mm
ソフトウェア:    テラヘルツ分光測定ソフトウェア、 テラヘルツ分光イメージングソフトウェア
サイズ・重量:    220cm×110cm×110cm(本体のみ)、500kg

仕様等の詳細はお問合せください

システム概要

汎用型テラヘルツ分光測定装置のシステム図


テラヘルツ分光測定例

グルコースのテラヘルツ分光スペクトル
PTFE(80um)のテラヘルツ透過スペクトル


テラヘルツイメージング測定例

RNA塩基(ウラシル)のテラヘルツ分光イメージ像
シリコンウエハのテラヘルツ反射イメージ像


製品


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タンネットイメージング測定例

ICカード(Suica)のタンネットイメージング測定例